知的財産権等
渡邉 紳一
1~4件（全4件）
光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
- 出願日
- 特願PCT/JP2017/030814 2017年08月
- 権利種別
- 特許権
- 所有形態
- 共同
- 発明者
- 渡邉紳一、岡野真人
- 出願状況
- 出願
光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
- 出願日
- 特願2016-167370 2016年08月
- 権利種別
- 特許権
- 所有形態
- 共同
- 発明者
- 渡邉紳一、岡野真人
デュアルコム分光法を用いた偏光計測装置及び偏光計測方法
- 出願日
- 特願2016-017537 2016年02月
- 権利種別
- 特許権
- 所有形態
- 共同
- 発明者
- 渡邉 紳一，住原 花奈
偏波解析装置、及び偏波解析方法
- 出願日
- 特願2015-124617 2015年06月
- 権利種別
- 特許権
- 所有形態
- 共同
- 発明者
- 渡邉紳一、小口研一