Industrial property rights
Watanabe, Shinichi
1-4 items (total 4)
光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
- Application date
- PCT/JP2017/030814 2017.08
- Rights type
- Patent
- Ownership type
- Joint
- Inventor
- 渡邉紳一、岡野真人
- Application status
- Application
光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
- Application date
- 2016-167370 2016.08
- Rights type
- Patent
- Ownership type
- Joint
- Inventor
- 渡邉紳一、岡野真人
デュアルコム分光法を用いた偏光計測装置及び偏光計測方法
- Application date
- 2016-017537 2016.02
- Rights type
- Patent
- Ownership type
- Joint
- Inventor
- 渡邉 紳一，住原 花奈
偏波解析装置、及び偏波解析方法
- Application date
- 2015-124617 2015.06
- Rights type
- Patent
- Ownership type
- Joint
- Inventor
- 渡邉紳一、小口研一