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[プレスリリース]
低温X線回折イメージングによる葉緑体内部構造の非侵襲・高分解能観察に成功

研究
2015/07/13  慶應義塾大学
東京理科大学

慶應義塾大学理工学部物理学科の中迫雅由教授らの共同研究グループは、コヒーレントX線回折イメージングを生体粒子に適用し、光学顕微鏡や電子顕微鏡による観察では困難な、100ナノメートル(nm)解像度を越える非侵襲イメージング技術を開発してきました。今回、東京理科大学の松永幸大教授らと共同で、この方法をバクテリア葉緑体丸ごとの構造解析に適用し、内部構造を70nmの解像度で明らかにすることができました。
  • 本研究成果のポイント
    小さなものを丸ごと詳しく可視化する技術、コヒーレントX線回折イメージングを生体非結晶粒子の典型である細胞内小器官の構造解析に適用して、高い解像度で内部構造を明らかに。

  • プレスリリース全文は、以下をご覧ください。

プレスリリース(PDF)