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[プレスリリース]
テラヘルツ電磁波の偏波情報を用いた超高感度凹凸イメージング手法の開発に成功
~新しい非破壊・非接触検査への応用に期待~

研究
2012/06/28  慶應義塾大学

慶應義塾大学大学院理工学研究科の安松直弥君(修士1年)及び同理工学部物理学科渡邉紳一准教授の研究グループは、テラヘルツ電磁波の偏波情報を用いた超高感度な表面凹凸イメージング手法の開発に成功しました。テラヘルツ電磁波による表面形状計測は、可視光を透過しない塗装膜下やプラスチックケース内部の構造物のキズやへこみを非破壊検査する手法として産業界で広く注目を集めていますが、電磁波の波長が0.1~1 mmと著しく長いため高感度な画像を得るのが難しいという課題がありました。今回、測定対象物から反射したテラヘルツ電磁波の偏波情報を高精度で抽出するという全く新しい発想に基づくイメージング装置を開発し、最も感度が高い部分でテラヘルツ電磁波パルスの中心波長の千二百分の一に相当する0.5μmの深さ分解能を持つ凹凸イメージを得ることに成功しました。
本研究成果は、2012年6月26日(米国時間)に、アメリカ光学会のレター誌『Optics Letters』のオンライン速報版で公開されました。

Naoya Yasumatsu, and Shinichi Watanabe,
"T-ray topography by time-domain polarimetry." Optics Letters, Vol. 37, Issue 13, pp. 2706-2708 (2012).
http://www.opticsinfobase.org/ol/abstract.cfm?uri=ol-37-13-2706外部サイトへのリンク

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