[プレスリリース]
最表面分子の種類と量を追跡できる世界最速の軟X線吸収分光法を開発
—触媒反応の仕組みの解明に威力を発揮—

高エネルギー加速器研究機構（KEK）物質構造科学研究所の雨宮健太（あめみや　けんた）准教授らの研究グループは、慶應義塾大学理工学部の近藤寛（こんどう　ひろし）教授らと共同で、固体の最表面にある1分子層以下の分子の種類と量を、ビデオと同じような1秒間に30コマの速さで連続測定できる世界最速の「軟X線吸収分光法」を開発しました。これにより、例えば、自動車の排気ガスの浄化などに用いられる触媒の表面で起こっている化学反応を、実際の動作状態に近い条件で観察することができるようになり、触媒反応の仕組みの解明や、更にはそれを活かした新たな高性能触媒の開発が可能になります。
この研究成果は、米国科学雑誌「Applied Physics Letters」の2011年8月15日（現地時間）号に掲載されました。

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